J Dent：颈环龋损的V类洞修复失败的风险因素分析

2018-07-28 lishiting MedSci原创

颈环龋损V类洞修复

这篇回顾性，非介入性，多中心并基于诊所的研究其目的是为了分析单面和双面颈环(root)龋损(CCLs)修复治疗后影响存留的因素。

这篇回顾性，非介入性，多中心并基于诊所的研究其目的是为了分析单面和双面颈环(root)龋损(CCLs)修复治疗后影响存留的因素。研究搜寻了在5家私人执业诊所常规就诊的患者数据，并收集了具有单面和双面CCLs的病例。研究共记录了在最后一次就诊前至少6个月检测到的1167名患者的2070例CCLs数据。采用Kaplan-Meier-analyses评估time-to-failure。采用Cox比例风险模型评估临床因素与治疗失败时间之间的联系。结果显示，在120个月内[平均(SD)随访时间：50 (40) months]，共219例治疗失败。平均存留时间为120个月。单面修复(CCL1)的AFR为1.82%，双面修复(CCL2)的为3.25%。双面颈环修复的多变量Cox回归分析显示其失败率较高，是单面颈环修复的1.75倍。另外，CCL每年复查超过2次的病例其治疗失败率明显高于每年复查不到2次的病例(p<0.001)。结论：单面和双面CCLs的修复治疗策略失败率均可达到较低的水平。临床意义：CCLs的修复治疗对于处理单面CCL是一种行之有效的方法。然而，CCL近端的扩展会明显缩短修复的使

作者：lishiting



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  1. 2019-06-19 yese

    #V类洞#

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  2. 2018-08-06 liumin1987

    学习学习。

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  3. 2018-08-04 sillywu

    风险因素有很多呀，就算理论过了，实操还是个大风险

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  4. 2018-08-03 liumin1987

    嗯嗯，学习了。

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  5. 2018-07-30 龙胆草

    学习谢谢分享

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