JNNP：立体脑电图检查中电刺激诱发癫痫发作是术后癫痫复发的有用预测指标吗？
2020-11-15 MedSci原创 MedSci原创
自癫痫手术开始以来，大脑皮层的直接电刺激（ES）一直被用于两个主要目的：绘制功能性皮质图和定位致痫区（EZ）。诱发癫痫的ES被认为是立体脑电图（SEEG）研究的一个重要部分。直接电刺激大脑皮层是立体脑
自癫痫手术开始以来，大脑皮层的直接电刺激（ES）一直被用于两个主要目的：绘制功能性皮质图和定位致痫区（EZ）。诱发癫痫的ES被认为是立体脑电图（SEEG）研究的一个重要部分。直接电刺激大脑皮层是立体脑电图（SEEG）的传统方法，但其作为癫痫发作预测因素的价值尚未被仔细研究。在已发表的有关癫痫手术的研究中，EZ的定义或手术结果的预测因子、ES的诊断和预后价值很少被提及。
方法：回顾性分析了346例经SEEG手术治疗的局灶性癫痫患者。所有患者均接受非侵入性术前评估，包括长时间头皮脑电图监控、高分辨率MRI（癫痫协议）和正电子发射断层扫描。作为潜在的预测因素，包括：病因、MRI数据、发病年龄、癫痫持续时间、手术年龄、手术位置以及癫痫发作是由低频电刺激（LFS）还是高频电刺激引起的。
结果：346例中，63.6%的患者预后良好（无癫痫复发）。与单一病因分析有显著相关性。在多变量分析中，MRI、II型局灶性皮质发育不良和肿瘤使癫痫复发（SR）的风险分别降低了47%、58%和81%。与没有诱发性癫痫相比，LFS后发作性事件的发生显著地预测了癫痫发作的有利结果，最后随访时SR致残的几率只有44%。
结论：在已知的预测预后因素中，LFS诱发癫痫是术后癫痫预后的一个有意义的预测因素。
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